致密性測(cè)量?jī)x-德國(guó)菲希爾ANOTEST YMP30-S

ANOTEST YMP30-S鋁上陽(yáng)極氧化膜密閉性測(cè)試儀

測(cè)量氧化膜的導(dǎo)納（Y），符合 DIN EN ISO 12373-5 及 ASTM 457-67 標(biāo)準(zhǔn)。 測(cè)量范圍為 3 – 200 µS，測(cè)量槽直徑為 13 mm
通過(guò)可選的精準(zhǔn)電子參考物質(zhì)校準(zhǔn)儀器
典型應(yīng)用領(lǐng)域
該儀器極適合快速簡(jiǎn)便的對(duì)鋁材上的陽(yáng)極氧化膜密閉性進(jìn)行現(xiàn)場(chǎng)測(cè)量。 涂層的耐氣候性取決于導(dǎo)納（Y）

德國(guó)FISCHER菲希爾ANOTEST YMP30-S致密性測(cè)試儀-------使用穩(wěn)健的測(cè)量技術(shù)測(cè)試陽(yáng)極氧化鋁的致密度,ANOTEST® YMP30-S，鋁上的陽(yáng)極氧化涂層（陽(yáng)極氧化鋁）的致密度質(zhì)量是其耐候性的決定性因素。FISCHER的 ANOTEST YMP30-S 可測(cè)量導(dǎo)納 Y，能夠可靠地提供有關(guān)陽(yáng)極氧化鋁涂層致密度度等質(zhì)量信息。其緊湊的結(jié)構(gòu)使這款耐用的手持式設(shè)備成為現(xiàn)場(chǎng)測(cè)量的理想儀器。

密封質(zhì)量測(cè)試儀

符合標(biāo)準(zhǔn) DIN EN ISO 2931 與 ASTM B 457-67 的用于鋁上陽(yáng)極氧化膜的密封質(zhì)量測(cè)試儀 氧化膜的耐候性是評(píng)判密封質(zhì)量的一個(gè)依據(jù)。根據(jù) DIN EN ISO 2931 和 ASTM B 457-67，陽(yáng)極氧化膜形成電介質(zhì)所處的電容器的導(dǎo)納 (Y) 是密封質(zhì)量的重要標(biāo)準(zhǔn)。ANOTEST® YMP30-S 根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)測(cè)量導(dǎo)納，其設(shè)計(jì)亦非常適合現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試。

測(cè)量程序

將自粘橡膠環(huán)放置在待測(cè)表面上，并在封閉的空間內(nèi)用數(shù)滴測(cè)試用液體注滿。然后將鋁基板連接到接地插座，并將測(cè)試電極浸入測(cè)試液體中，從而形成一個(gè)電容器，其中陽(yáng)極膜是作為電介質(zhì)存在的。此時(shí)，可測(cè)量電容器的導(dǎo)納并直接以 μS（微西門子）表示。